現代の科学の進歩は、私たちの想像をはるかに超えています。昔では考えられなかったようなことで、現在では簡単にできるようになったというような事例は数多く存在します。このようなことは、主に電子デバイス関わる分野において生じてきています。その端的な例が携帯電話です。
一昔前までは携帯電話を利用するためには、大変大きな鞄のようなものを抱えていかなければなりませんでした。最近では、よくご存知のように以前の携帯電話の性能をはるかにしのぐスマートフォンが、ポケットに入るレベルで登場しています。この例でもわかるように、時間が経てば経つほど、電子デバイスは大変小型になり、ポケットにも簡単に入るようなものになってきました。ただこのようなことは、さまざまな製造過程を夏にすることとなってきます。
半導体回路が芋煮集積化されたことで、一昔前まで行われていたような部品一つ一つの検査を行うということが不可能になりました。そのようなから電子デバイスの検査方法として、オリジナルソケットと検査治具を用いて回路動作のチェックを行うようになってきています。集積回路にオリジナルソケットを介して検査治具を取り付けることにより、その他の部品には変更を必ず検査ができますので効率的な作業を行うことが可能となります。このように、オリジナルソケットと検査治具を用いた電子回路の診断法は、生産ラインにおける製造のスピードを落とすことなく検査が可能ということで大きな評価を得ています。